Tur Drake Teknik Shenzhen Co., Ltd.
+86-755-23074100
Produktkategori
Kontakta oss
  • TEL:+8618948705000
  • E-post:sales@Ldtac.com
  • Lägg till: 5:e våningen, byggnad 1, Jinshan Industrial Park, 375, Xixiang Section, Guangshen Road, Xixiang Street, Baoan District, Shenzhen City, Guangdong-provinsen, Kina
IC Original Crystal Source Test Board Design
video

IC Original Crystal Source Test Board Design

IC Original Crystal Source Test Board Design är en funktionell PCB-plattform med hög-precision som används för generering av kristallsignaler, frekvensverifiering och testning av IC-klockkällor. Den är huvudsakligen utformad för att utvärdera stabiliteten och frekvensnoggrannheten hos kristalloscillatorer under olika belastnings-, spännings- och temperaturförhållanden.

Skicka förfrågan
  • Beskrivning

    Produktöversikt

     

    IC Original Crystal Source Test Board Design är en funktionell PCB-plattform med hög-precision som används för generering av kristallsignaler, frekvensverifiering och testning av IC-klockkällor. Den är huvudsakligen utformad för att utvärdera stabiliteten och frekvensnoggrannheten hos kristalloscillatorer under olika belastnings-, spännings- och temperaturförhållanden.

    Testkortet integrerar typiskt kristalloscillatorkretsar, belastningskondensatornätverk, buffert-/förstärkarkretsar, signalmätningsgränssnitt och justerbara parametermoduler. Den tillhandahåller en standardiserad testmiljö för IC FoU, val av kristaller och systemklockvalidering.

    IC Original Crystal Source Test Board Design används i stor utsträckning inom chiputveckling, kommunikationssystem, inbyggda system, RF-moduler och hög-precisionsklocksystemdesign, vilket gör det till ett viktigt tekniskt verktyg i det elektroniska designverifieringsstadiet.

     

    Produktegenskaper

     

    • Hög-precisionskapacitet för testning och analys av kristallsignaler
    • Stöder fler-frekvenskristallkompatibilitet (kHz – MHz – GHz expansion)
    • Lågt fasbrus och låg jittersignalupptagning
    • Justerbar belastningskapacitans och matchande nätverksdesign
    • Stöder flera IC-klockingångsgränssnittsstandarder
    • Stabil strömisolering och anti-interferensdesign
    • Modulär struktur för snabb testkonfigurationsbyte
    • Lämplig för FoU-validering och laboratoriemiljöer

    -TS1657014902

    Användningsområden

     

    • IC Design & Verifiering
    • Kristalloscillatortestning
    • Validering av klockkälla
    • Utveckling av inbyggda system
    • Test av kommunikationschip
    • RF och mikrovågssystem
    • Konsumentelektronik FoU
    • Timingsystem för fordonselektronik
    • Industriella styrsystem

    -INT11657014902

     

    Produktspecifikationer (exempel)

     

    Punkt

    Specifikation

    Typ av substrat

    FR4 / hög-material (valfritt)

    Driftsfrekvensområde

    32,768 kHz – 200 MHz (expanderbar)

    Lastkapacitansintervall

    1 pF – 50 pF (justerbar)

    Signalutgångstyp

    CMOS / LVDS / Sinusvåg

    Strömförsörjningsspänning

    1.8V / 2.5V / 3.3V / 5V

    Testa gränssnitt

    SMA / Fäst rubrik / tavla-till-bräda

    Fasbrus

    -120 dBc / Hz @ 10 kHz (vanligt)

    Driftstemperatur

    -40 grader ~ 85 grader

    Impedanskontroll

    50Ω / Anpassningsbar

     

    Produktfördelar (jämfört med traditionella testmetoder)

     

    Punkt

    IC Crystal Source Test Board

    Traditionell diskret testning

    Testnoggrannhet

    ⭐⭐⭐⭐⭐

    ⭐⭐⭐

    Signalstabilitet

    ⭐⭐⭐⭐⭐

    ⭐⭐⭐

    Testningseffektivitet

    ⭐⭐⭐⭐⭐

    ⭐⭐

    Repeterbarhet

    ⭐⭐⭐⭐⭐

    ⭐⭐

    Systemintegration

    ⭐⭐⭐⭐⭐

    ⭐⭐

    Felsökningsflexibilitet

    ⭐⭐⭐⭐

    ⭐⭐⭐

    Automationsstöd

    ⭐⭐⭐⭐

    ⭐⭐

     

    Sammanfattning av viktiga fördelar

     

    • Ger en hög-precisionsplattform för validering av kristallsignaler
    • Förbättrar effektivt IC-klockans tillförlitlighet
    • Stöder flera kristall- och IC-gränssnittskompatibilitetstester
    • Minskar tid och kostnader för FoU-felsökning
    • Förbättrar systemets frekvensstabilitet och anti-störningsförmåga
    • Lämplig för utveckling och validering av klockkällor med flera-scenarier
    • Stöder anpassad testkretsdesign
    • Förbättrar den övergripande effektiviteten för verifiering av chipdesign
    -A11657014903

    Efter-försäljning och teknisk support

     

    • Kristallkretsdesign och optimeringsstöd
    • Analys av hög-signalintegritet (SI).
    • Skräddarsydd testlösning och design av systemarkitektur
    • DFM/DFT-tillverknings- och testbarhetsanalys
    • Snabb prototypframställning och stöd för små-partiproduktioner
    • Testtjänster för frekvensstabilitet och tillförlitlighet
    • Global leverans och teknisk teknisk support

    -A1657014903

    Populära Taggar: ic original kristallkälla testbräda design, Kina ic original crystal source testbräda tillverkare, leverantörer, fabrik, Design av interna styrsystem för fordon, Datormoderkortsdesign, Design av kretskort för bärbara datorer, Fotovoltaisk projektdesign, Provdesign och utvecklingstjänster, Smart hårdvara

(0/10)

clearall